智能玻璃工頻介電常數(shù)測試儀GDAT-A

智能玻璃工頻介電常數(shù)測試儀GDAT-A技術(shù)指標(biāo) 
1．Q值測量
a．Q值測量范圍：5～999。
b．Q值量程分檔：30、100、300、999、自動換檔。
c．標(biāo)稱誤差
頻率范圍：25kHz～10MHz；
固有誤差：≤5%±滿度值的2%；工作誤差：≤7%±滿度值的2%；
頻率范圍：10MHz～50MHz；
固有誤差：≤7%±滿度值的2%；工作誤差：≤10%±滿度值的2%。
2．電感測量
a．測量范圍：0.1μH～1H。
b．分 檔：分七個量程。
0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH，
0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。
3．電容測量
a．測量范圍：1～460pF(460pF以上的電容測量見使用規(guī)則)；
b．電容量調(diào)節(jié)范圍
主調(diào)電容器：40～500pF；
準(zhǔn) 確 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%；
微調(diào)電容量：－3pF～0～+3pF；
準(zhǔn) 確 度：±0.2pF。
4．振蕩頻率
a．振蕩頻率范圍：25kHz～50MHz；
b．頻率分檔：
25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，
1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。
c．頻率誤差：2×10±1個字。
5．Q合格指示預(yù)置功能，預(yù)置范圍：5～999。
6．儀器正常工作條件
a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
b．相對濕度：<80%；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．試樣尺寸
圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時），Φ25~35mm（ε=12~30時），Φ15~20mm（ε>30時）
8．其他
a．消耗功率：約25W；
b．凈重：約7kg；
c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

GDAT-A概述
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點自動設(shè)定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

GDAT-A產(chǎn)品優(yōu)勢：
西門子cpu中央單元處理器是目前采集精度zui高zui穩(wěn)定的采集系統(tǒng)
（*淘汰了zui初的51單片機控制采集精度差干擾信號多 和 PLC電纜較長，尤其是DA 模塊采用電壓信號輸出時，線路有較大的電壓降幅，影響了系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性
CPU zui廣泛用于中國通訊設(shè)備服務(wù)器  如： 中國聯(lián)通、中國移動 采用的專業(yè)信號處理用途上）
無線藍(lán)牙控制拜托距離困擾人機分離使用更加方便。
（擺脫了長長的數(shù)據(jù)線導(dǎo)致的信號傳播慢 命令延時的困擾 也正因為無線藍(lán)牙使我們的儀器擁有支持更多的電腦同時操作等特點）
儀器故障自動報警系統(tǒng)是操作人員安全更加有保障。
（當(dāng)線路有故障時儀器會自動報警更大保護人員安全 此報警系統(tǒng)屬于故障報警和試驗放電報警、軟件報警無關(guān)）
配備網(wǎng)絡(luò)端口共享功能 讓更多人員操作試驗試驗結(jié)果存儲辦公電腦使報告更加清晰簡單
（其原理就像共享一臺打印機一樣方便）

GDAT-A《BH916介質(zhì)損耗裝置》(測試夾具)是測試系統(tǒng)的核心檢測部件，它由一個LCD數(shù)字顯示的微測量裝置和一對經(jīng)精密加工的、間距可調(diào)的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時的Q值變化的量化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。BH916介質(zhì)損耗測試裝置是本公司研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品，精密的加工設(shè)計、精確的LCD數(shù)字讀出、一鍵式清零功能，克服了機械刻度讀數(shù)誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。

GDAT-A基于串聯(lián)諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測試系統(tǒng)的二次儀表，其數(shù)碼化主調(diào)電容器的創(chuàng)新設(shè)計代表了行業(yè)的zui高成就，隨之帶來了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。該表具有先進(jìn)的人機界面，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L、主調(diào)電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數(shù)字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達(dá)1×10-6。國標(biāo)GB/T 1409-2006規(guī)定了用Q表法來測定電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)，把被測材料作為平板電容的介質(zhì)，與輔助電感等構(gòu)成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取zui高的測試靈敏度。因而Q表法的測試結(jié)果更真實地反映了介質(zhì)在高頻工作狀態(tài)下的特征。

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