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介電常數(shù)測(cè)試儀(電壓擊穿試驗(yàn)儀)

點(diǎn)擊次數(shù):1899  更新時(shí)間:2014-09-10

介電常數(shù)測(cè)試儀/介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率測(cè)試儀的詳細(xì)描述:

電:  /  

介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn):GBT1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

 

概述

A型高頻Q表和C型高頻Q表主要區(qū)別

 

A

C

測(cè)試頻率范圍

25kHz~60MHz

100kHz~160MHz

主調(diào)電容控制

傳感器

步進(jìn)馬達(dá)

電容搜索

無(wú)

      A/C高頻Q表能在較高的測(cè)試頻率條件下,測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位。

A/C高頻Q表是北廣精儀儀器設(shè)備有限公司zui

新研制的產(chǎn)品,它以DDS數(shù)字直接合成方式產(chǎn)生信號(hào)源,頻率達(dá)

60MHz/160MHz,信號(hào)源具有信號(hào)失真小、頻率、信號(hào)幅度穩(wěn)定的優(yōu)點(diǎn),更保證了測(cè)量精度的性。A主電容調(diào)節(jié)用傳感器感應(yīng),電容讀數(shù),且頻率值可設(shè)置。C主電容調(diào)節(jié)用

步進(jìn)馬達(dá)控制,電容讀數(shù)更加,頻率值和電容值均可設(shè)置。A/C電容、電感、Q值、頻率、量程都用數(shù)字顯示,在某一頻率下,只要能找到諧振點(diǎn),都能直接讀出電感、電容值,大大擴(kuò)展了電感的測(cè)量范圍,而不再是固定的幾個(gè)頻率下才能測(cè)出電感值的大小。A/C*的諧振點(diǎn)頻率自動(dòng)搜索或電容自動(dòng)搜索功能,能幫助你在使用時(shí)快速地找到被測(cè)量器件的諧振點(diǎn),自動(dòng)讀出Q值和其它參數(shù)。Q值量程可手動(dòng)或自動(dòng)轉(zhuǎn)換。

二、工作特性

   1.Q值測(cè)量

  a.Q值測(cè)量范圍:2~1023;

  b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔;

c.標(biāo)稱(chēng)誤差

 

A

C

頻率范圍

25kHz~10MHz

100kHz~10MHz

固有誤差

≤5%±滿(mǎn)度值的2%

≤5%±滿(mǎn)度值的2%

工作誤差

≤7%±滿(mǎn)度值的2%

≤7%±滿(mǎn)度值的2%

頻率范圍

10MHz~60MHz

10MHz~160MHz

固有誤差

≤6%±滿(mǎn)度值的2%

≤6%±滿(mǎn)度值的2%

工作誤差

≤8%±滿(mǎn)度值的2%

≤8%±滿(mǎn)度值的2%

   2.電感測(cè)量范圍

A

C

14.5nH~8.14H

4.5nH~140mH

3.電容測(cè)量

 

A

C

直接測(cè)量范圍

1~460p

1~205p

主電容調(diào)節(jié)范圍

40~500pF

18~220pF

準(zhǔn)確度

150pF以下±1.5pF;

150pF以上±1%

150pF以下±1.5pF

150pF以上±1%

   注:大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見(jiàn)使用方法。

   4.信號(hào)源頻率覆蓋范圍

    

A

C

頻率范圍

10kHz~60MHz

0.1~160MHz

CH1

10~99.9999kHz

0.1~0.999999MHz

CH2

100~999.999kHz

1~9.99999MHz

CH3

1~9.99999MHz

10~99.9999MHz

CH4

10~60MHz

100~160MHz

頻率指示誤差

3×10-5±1個(gè)字

 

  5.Q合格指示預(yù)置功能:預(yù)置范圍:5~1000

   6.Q表正常工作條件

   a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃;

  b.相對(duì)濕度:<80%;

  c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

   7.其他

  a.消耗功率:約25W;

   b.凈重:約7kg;

   c.外型尺寸:(寬×高×深)mm:380×132×280。

 

 

使用方法

高頻Q表是多用途的阻抗測(cè)量?jī)x器,為了提高測(cè)量精度,除了使Q表測(cè)試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測(cè)試方法和殘余參數(shù)修正方法。

1.測(cè)試注意事項(xiàng)

a.本儀器應(yīng)水平安放;

b.如果你需要較地測(cè)量,請(qǐng)接通電源后,預(yù)熱30分鐘;

c.調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開(kāi)關(guān)時(shí),當(dāng)接近諧振點(diǎn)時(shí)請(qǐng)緩調(diào);

d.被測(cè)件和測(cè)試電路接線(xiàn)柱間的接線(xiàn)應(yīng)盡量短,足夠粗,并應(yīng)接觸良好、可靠,以減少因接線(xiàn)的電阻和分布參數(shù)所帶來(lái)的測(cè)量誤差;

e.被測(cè)件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時(shí)可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;

f.手不得靠近試件,以免人體感應(yīng)影響造成測(cè)量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線(xiàn)柱。

2.高頻線(xiàn)圈的Q值測(cè)量(基本測(cè)量法)

六、維修

1.新購(gòu)儀器的檢查

新購(gòu)的儀器能先用LKI-1電感組,將各個(gè)電感在各個(gè)不同頻率測(cè)試Q值,把測(cè)試的情況,例使用的電感號(hào)、測(cè)試頻率Q讀數(shù)、電容讀數(shù)等多次測(cè)得數(shù)及測(cè)試環(huán)境條件逐一詳細(xì)記錄,并把記錄保存起來(lái),以供以后維修時(shí)作參考。

LKI-1電感組是測(cè)試時(shí)作輔助電感用的,不能把這些電感當(dāng)作高精度的標(biāo)準(zhǔn)電感看待。隨著測(cè)試環(huán)境條件不同,測(cè)得電感器Q值和分布電容可能略有不同。

2.使用和保養(yǎng)

高頻Q表是比較精密的阻抗測(cè)量?jī)x器,在合理使用和注意保養(yǎng)情況下,才能保證長(zhǎng)期穩(wěn)定和較高的測(cè)試精度。

a.熟悉本說(shuō)明書(shū),正確地使用儀器;

b.使儀器經(jīng)常保持清潔、干燥;

c.本儀器保用期為18個(gè)月,如發(fā)現(xiàn)機(jī)械故障或失去準(zhǔn)確度,可以原封送回本廠(chǎng),免費(fèi)修理。

 

 

 

 

附表二    各Q值均值回路指示值

           和測(cè)試回路平均殘量修正系數(shù)表

線(xiàn)圈號(hào)

測(cè)試

頻率

 

C

 

 

修正

系數(shù)

  

 

1

100kHz

114

 

 

2

400kHz

135

136

1

3

1MHz

134

128.5

0.96

4

2MHz

154

 

 

4.5MHz

183

193

1.05

 

5

4.5MHz

170

 

 

12MHz

237

236.2

1

 

6

12MHz

234

 

 

25MHz

305

281

0.92

 

7

25MHz

218

170

0.78

50MHz

257

252

0.98

 

Qe:標(biāo)準(zhǔn)有效Q值

A型Q表在測(cè)試Q值時(shí),已對(duì)測(cè)試回路的殘量作了修正,故不再需要對(duì)Q值進(jìn)行均值修正。

 

六、維修

1.新購(gòu)儀器的檢查

新購(gòu)的儀器能先用LKI-1電感組,將各個(gè)電感在各個(gè)不同頻率測(cè)試Q值,把測(cè)試的情況,例使用的電感號(hào)、測(cè)試頻率Q讀數(shù)、電容讀數(shù)等多次測(cè)得數(shù)及測(cè)試環(huán)境條件逐一詳細(xì)記錄,并把記錄保存起來(lái),以供以后維修時(shí)作參考。

LKI-1電感組是測(cè)試時(shí)作輔助電感用的,不能把這些電感當(dāng)作高精度的標(biāo)準(zhǔn)電感看待。隨著測(cè)試環(huán)境條件不同,測(cè)得電感器Q值和分布電容可能略有不同。

2.使用和保養(yǎng)

高頻Q表是比較精密的阻抗測(cè)量?jī)x器,在合理使用和注意保養(yǎng)情況下,才能保證長(zhǎng)期穩(wěn)定和較高的測(cè)試精度。

a.熟悉本說(shuō)明書(shū),正確地使用儀器;

b.使儀器經(jīng)常保持清潔、干燥;

c.本儀器保用期為18個(gè)月,如發(fā)現(xiàn)機(jī)械故障或失去準(zhǔn)確度,可以原封送回本廠(chǎng),免費(fèi)修理。

 

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀電感器:

按測(cè)試頻率要求,需要配置不同量的電感器。

例如:在1MHz測(cè)試頻率時(shí),要配250μH電感器,在50MHz測(cè)試頻率時(shí),要配0.1μH電感器等。

 

高頻介質(zhì)樣品(選購(gòu)件):
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。

該樣品由人工藍(lán)寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測(cè)試樣品。用戶(hù)可按需訂購(gòu),以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

 

 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀特點(diǎn): 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),使測(cè)Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對(duì)固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測(cè)試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測(cè)試信號(hào)。獨(dú)立信號(hào)   源輸出口,所以本機(jī)又是一臺(tái)合成信號(hào)源。

◎ 測(cè)試裝置符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

 

介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作頻率范圍是10kHz~120MHz,它能完成工作頻率內(nèi)材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器和測(cè)微圓筒線(xiàn)性電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品,配用Q表作為指示儀器。

絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。

同樣,由測(cè)微圓筒線(xiàn)性電容器的電容量讀數(shù)變化,通過(guò)公式計(jì)算得到介電常數(shù)。

 

 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo):

 

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測(cè)試。

2.1.2 tanδ和ε測(cè)量范圍:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε測(cè)量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作頻率范圍:50kHz~50MHz    四位數(shù)顯,壓控振蕩器

Q值測(cè)量范圍:1~1000三位數(shù)顯,±1Q分辨率

可調(diào)電容范圍:40~500 pF  ΔC±3pF

電容測(cè)量誤差:±1%±1pF

Q表殘余電感值:約20nH

 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀裝置:

2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線(xiàn)性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4

 

標(biāo)簽:電壓擊穿試驗(yàn)儀 介電常數(shù)測(cè)試儀 介質(zhì)損耗測(cè)試儀 體積表面電阻率測(cè)試儀  體積電阻率測(cè)試儀 

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